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表面X線回折でみた有機超薄膜の構造
https://iwate-u.repo.nii.ac.jp/records/9889
https://iwate-u.repo.nii.ac.jp/records/98895de54681-c9ee-48fd-a074-ab9854f69e20
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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jjacg-v35n4p271-275.pdf (836.3 kB)
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| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2009-12-03 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 表面X線回折でみた有機超薄膜の構造 | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||
| 著者 |
吉本, 則之
× 吉本, 則之
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| 著者別名 | ||||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||||
| 識別子 | 61427 | |||||||
| 姓名 | Yoshimoto, Noriyuki | |||||||
| 著者(機関) | ||||||||
| 値 | 岩手大学大学院工学研究科 | |||||||
| 登録日 | ||||||||
| 日付 | 2009-12-03 | |||||||
| 書誌情報 |
日本結晶成長学会誌 巻 35, 号 4, p. 271-275, 発行日 2008-01-01 |
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| ISSN | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||
| 収録物識別子 | 0385-6275 | |||||||
| Abstract | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 有機半導体薄膜の評価技術として微小角入射X線回折(GIXD)を取り上げ,ペンタセンと3種類のオリゴオリゴチオフェン薄膜についての測定結果を紹介する.ペンタセンでは膜厚に依存する多形転移をin-plane GIXDで観測した.また,オリゴオリゴチオフェンでは,末端官能基の違いによって,分子配列の秩序性が異なり,膜厚に依存して異なる面内構造が観察された.これらの結果から有機半導体薄膜の成長初期過程のGIXD観察が可能であり,結晶成長制御のめの有効な評価法であることが示される. | |||||||
| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | 日本結晶成長学会 | |||||||
| 権利 | ||||||||
| 権利情報 | 日本結晶成長学会 | |||||||
| 権利 | ||||||||
| 権利情報 | 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである | |||||||
| 著者版フラグ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||
| 異版である | ||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||
| 関連識別子 | http://ci.nii.ac.jp/naid/110007044839 | |||||||
